1.nMaterials a metodyn 

----) přesné chemické kompozice (v množství%) hastelloynx slitin s 0 a 0,12 ytrium senazývají hx a hxna, resp. jsou uvedeny v tabulce 1. Tyto dva vzorky byly postaveny ve tvaru 45 × 45 × 45 mm krychle pomocí stroje EOS M290 SLM (EOS, Robert Něstling Nostring 1, 82152, Krailling, Bavorsko, Německo) v Ochranná atmosféra AR pomocí prearyeded prášků a stejných parametrů zpracování. Provedli jsme standardní tepelné zpracování pro vzorky HX i HX. Roztok tepelné zpracování (ST) se provádí při teplotě 1177 ° C po dobu 2 hodin,následuje vzduchový chlazenína teplotu místnostin-n-nn NFor tečení testu, jsmenakrájeni kostka do řady desek s tloušťkou 3,1 mm; Z těchto desek byly testovací vzorky tečení vyříznuty pomocí elektrondisharge drátěný řezací stroj. Rozměry měřidla každého vzorku byly 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Provedli jsme test tečení pod podmínkami 900 ◦C N80 MPA. Vzorky byly vyleštěny pomocí SIC Emery Paper až do stupně 1200nnásledovaný diamantovou pastou až do koloidního oxidu křemičitého (0,5 μm) pomocí strurů (balerup, Dánsko) automatického lešticího stroje. Všechny vzorky byly potom promyty ethanolem v ultrazvukové lázni po dobu 10 minut. Leptali jsme vzorky s 20% kyselinou fosforečnou 80% vodní roztok pro pozorování hranic roztavených bazénů. Mikrostrukturní pozorování bylo provedeno za použití optického mikroskopu (OM; Olympus Corp. Tokyo, Japonsko), skenovacího elektronového mikroskopu (SEM; Hitachi, Ltd., Tokio, Japonsko), Energy Ndispersive Spectroscopy (EDS) (S N3700N typ EDS Vybavení vyráběné firmou Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Japonsko), a polní emisní elektronová mikroskopie (Fensem) (JSM

nn n3nn3.1.nnmicrostrukturu pozorovánínn3.1.1.n

NFigure 1 ukazuje hx a hx \\ t Optické mikrostruktury specifických vzorků ve specifických podmínkách AS Nbuilt. Všechny byly vyrobeny za použití stejných parametrů zpracování. HXna vzorek vykazoval více trhlinnež Hx (obrázek 1A), protože HXna vzorek obsahoval další yttrium (y) legující prvky, které postrádal vzorek HX. Pozoruhodný bod je, že všechny trhliny byly rovnoběžné se směrem budovy (BD) (obrázek 1b). Frakce trhlin pro vzorky Hx a Hx jsou 1% a 5%, resp. Nn-n/n#ndnigure 2 ukazuje sem mikrografy jakoneviditelný vzorek. Přinižším zvětšení, všechny vzorky ukázaly hranice roztavených bazénů a tuhnoucí struktur, jako jsou hranice zrn a dendrity (obrázek 2A, B pro Hx a obrázek 2C, D pro HXna). Obrázek 2B znázorňuje trhliny při vyšším zvětšením v modelu Hx. V obou vzorcích byly trhliny vytvořeny podél hranice zrna a objevily se v interdendritických oblastech.n+n-n-n-n--) Provádění EDS mapování skenovánína trhlinách HX a HXna vzorků. EDS analýza odhalila karbidy SIC a tvorbu W6C v modelu Hx (obrázek 3A). Ve vzorku HXna vzorku, EDS mapovánína trhlinu ukázaly tvorbu YC (obrázek 3b)n. N

nnnfigure 4 znázorňuje mapování eds z HX built vzorek, který indikuje existenci malého oxidu Y (Yttria) a oxidu oxidu si (oxidu křemičitého) uvnitř zrna. Mapy krystalografických orientačních orientačních orientace elektronů (EBSD) obou vzorků v podivném stavu (Obrázek 5) odhalily sloupcové zrna orientovaná téměř rovnoběžná s směrem budovy. V modelu HX jsouněkteré zrna orientovány ve směru aněkteré jsou ve směru (obrázek 5a). Na druhou stranu, zrna v modelu HXna vzorku jsou poněkud jemnější a většinou orientovány ve směru (obrázek 5b)n. Nn

nnn nn